測試解決方案
test solution
測試解決方案
公司(si)致力於(yu)搭(da)建(jian)最適(shi)用(yong)於客製(zhi)化(hua)需(xu)求(qiu)的(de)平台(tai)並不(bu)斷驗證，最(zui)終形(xing)成解(jie)決方案。
目(mu)前(qian)已累(lei)計(ji)研(yan)發(fa)出 MCU 芯(xin)片、ADC 芯(xin)片、FPGA 芯(xin)片、GPU 芯 片、視頻芯(xin)片、射頻芯(xin)片、SoC 芯(xin)片、數字信號處理芯(xin)片等超過 30 種芯(xin)片測試解決方案。
SoC芯片需要處理(li)的數據量非常(chang)龐(pang)大，芯片引(yin)腳(jiao)多，向量(liang)深度(du)大(da)。針(zhen)對(dui)該類芯片的上述(shu)特(te)性(xing)，公司利用數字(zi)通道(dao)的複用技(ji)術(shu)和(he)向量的主(zhu)次(ci)調(diao)用技術，再結合數(shu)據(ju)處(chu)理算(suan)法(fa)，實(shi)現了(le)用測試機(ji)多工(gong)位(wei)數據全(quan)覆蓋(gai)的並行測(ce)試。
HISEMI提供(gong)完(wan)善的測試平(ping)台，以支(zhi)持各種(zhong)SoC芯片產品的測試要求。測試平台詳(xiang)見下(xia)表(biao)：
| Vendor | Model | Rate |
| Advantest | V93000 | 200 Mbps ~ 16 Gbps |
| Teradyne | J750/J750EX | 100 MHz /200 MHz |
| YTEC | S100 | 100 MHz |
| Chroma | 3380P | 100 MHz |
| LTX-Credence | D10 | 200Mbps |
公(gong)司是(shi)國內較早(zao)進行指紋識別芯片測試方(fang)案(an)研究(jiu)的公司之(zhi)一，憑(ping)借著(zhu)較強(qiang)的研發能(neng)力，已(yi)實現電容平麵條形指紋(wen)芯片、電容(rong)側(ce)邊(bian)指(zhi)紋芯片、電(dian)容弧麵(mian)指紋芯片和光學(xue)指紋芯片測試方案的成功研發。
HISEMI提供完善的測試平台，以支持(chi)各(ge)種指紋芯片產(chan)品的測試要求。測試平台詳見下表：
| Vendor | Model | Rate |
| Chroma | 3380P | 100 MHz |
| YTEC | S100 | 100 MHz |
針對高(gao)速(su)射(she)頻芯片測試主要存(cun)在多(duo)工位之間(jian)相互幹(gan)擾、測試環(huan)境幹擾(rao)以及對測試平台和測試電路(lu)要求高等問題，公司采(cai)取(qu)對不同的工位設置(zhi)不同(tong)的頻段以(yi)及對信號(hao)采取屏(ping)蔽(bi)處理的測試方法，實現(xian)了多工位並測，該(gai)測試技術具(ju)備多種模(mo)式下的功(gong)能測試，如(ru)載(zai)波模式下的電流(liu)測試以及射頻通信測試等，通過(guo)測試機發送相(xiang)關命(ming)令信(xin)號到標(biao)準樣(yang)品，通過收發包數量來(lai)判斷(duan)好(hao)壞，再通過異(yi)步串口通訊命令(ling)進(jin)行(xing)解析(xi)。
HISEMI提供完善(shan)的測試平台，以支持各種射頻芯片產品的測試要(yao)求。測試平台詳見下表：
| Vendor | Model | Rate |
| National Instruments | STS T4 | 12.5Gb/s |
| YTEC | S100 | 100 MHz |
| Chroma | 3380P | 100 MHz |
| LitePoint | IQxstream |
HISEMI擁(yong)有(you)類型齊(qi)全的測試平台和熟練(lian)的測試工程(cheng)師(shi)，為(wei)客戶(hu)提(ti)供模擬類產品的測試程序開發。如運放等線性電路、功放類電路、馬達驅動類(lei)電路、電源(yuan)管理類電路、收音機類電路等各類模擬電路的測試程序開發和量產測試。
HISEMI提供多種測試平台，以支持模擬(ni)類芯片產品的測試要求。測試平台詳見下表：
| Vendor | Model | The configuration |
| ACCOTEST | STS8200B | FPVI*4,FOVI*4,HVIIK*1,QTMU*1,ACSM*1, DIO*1 |
| TRI | TR6850S | DVC*2,OVC*4,QTMU,AWG,PEB32 |
| ChangChuan | CTA8200 | DVI*1,QVI*1,OVS*1,PVM*1, QTMU*1,HKV*1 |
| Powertech | QT8100 | APU16*2,PVC40*1,PVI1000*1, PMS4*1 |
| HongBang | T862 | DDD*1,DVI*1,HVS*1,OV2*1 |
公司已經(jing)大量測試各種消費類IC，測試主要產品包括(kuo)有：閃(shan)燈芯片類；音樂芯片類；語音芯片類；鍾(zhong)表芯片類；計算器芯片類；遙(yao)控器芯片類；電動玩(wan)具編碼、解碼(ma)、驅動芯片、LED、LCD 驅動芯片等。為客(ke)戶提供程序開發及相關(guan)技術服(fu)務(wu)。
HISEMI提供多種測試平台，以支持大多數消費類芯片產品的測試要求。測試平台詳見(jian)下表：
| Vendor | Model | Rate |
| YTEC | S50 | 50 MHz |
| YTEC | S100 | 100 MHz |
| Chroma | 3360D/P | 50 MHz |
| Chroma | 3380D/P | 100 MHz |
| ChengZhi | TQT500/TQT500B | 1 MHz |
| VTT | V7100 | 10 MHz |
公司提供分立(li)器件(jian)測試和程序(xu)開(kai)發服務。目前已經涵蓋包括晶(jing)體(ti)管(guan)、場(chang)效(xiao)應管(MOS-FET)、二極管(Diode)、穩壓管二極(ji)管(Zener)、穩壓管、放電管(TVS)等產品的測試和程序開發。
HISEMI主要有DTS1000測試平台，以支持分(fen)立器件產品的測試要求。測試平台詳見下表：
| Vendor | Model | The configuration |
| JUNO | DTS1000 | 999V,30A |
